X-Işını Difraktometresi (XRD) X-ışını difraktometre analizi,kristal yapıdaki birçok malzeme türünün faz içeriklerinin belirlenmesinde kullanılan bir metottur. Merkezi Araştırma Laboratuvarı’nda bulunan XRD cihazıyla hem toz haline getirilmiş örneklerden, hem de 10 cm yüksekliğine kadar olan bulk(yığın) örneklerin seçimli noktalarından ölçümler gerçekleştirilebilmektedir. Kullanım alanları: • Yapı malzemeleri ve sanat eserlerinde kullanılan boyaların inorganik pigmentlerinintayini • Harç, sıva, … Okumaya devam et X-Işını Laboratuvarı