X-Işını Difraktometresi (XRD)
X-ışını difraktometre analizi,kristal yapıdaki birçok malzeme türünün faz içeriklerinin belirlenmesinde kullanılan bir metottur. Merkezi Araştırma Laboratuvarı’nda bulunan XRD cihazıyla hem toz haline getirilmiş örneklerden, hem de 10 cm yüksekliğine kadar olan bulk(yığın) örneklerin seçimli noktalarından ölçümler gerçekleştirilebilmektedir. Kullanım alanları:
• Yapı malzemeleri ve sanat eserlerinde kullanılan boyaların inorganik pigmentlerinintayini
• Harç, sıva, taş, tuğla ve çimento gibi yapı malzemelerinin faz analizleri
• Kayaç, toprak ve kil gibi jeolojik malzemelerin mineral analizleri
• Arkeolojik kazılarda ortaya çıkarılmış pişmiş toprak ve seramik eserlerin mineral analizleri
• Metal ve alaşım analizleri
• Geleneksel ve ileri seramik malzemelerin analizleri
• Polimer analizleri
Mikro-X-Işını Floresan Spektrometresi (µ-XRF)
X-Işını Floresan Spektrometresi ile birçok tipteki malzemenin sodyum-uranyum aralığındaki yarı-nicel element analizi gerçekleştirilmekte ve malzeme üzerindeki seçimli alanların element dağılım haritaları elde edilebilmektedir. Cihaz, açık tasarımlı spektrometre başlığıyla özellikle müzelerde bulundukları yerden çıkarılamayacak veya örnek alımının mümkün olmadığı tablo, seramik, cam, metal ve yazma eser gibi kültür varlıklarının ve sanat eserlerinin yerinde (in-situ) tahribatsız analizi için kullanılmaktadır.
Kullanılan Cihazlar
• Bruker D8 Discover X-Işını Difraktometresi
• BrukerARTAX 800 µ-X-Işını Floresan Spektrometresi